Scientific Materials Characterization

薄膜工学・材料科学における構造キャラクタリゼーション解析パイプラインスキル。 XRD、AFM、四探針法、UV-Vis などの測定データを統合し、Process-Structure-Property （PSP）の因果連鎖を定量化する。

When to Use

• 薄膜の成膜条件と膜特性の相関を解析したいとき
• XRD データから結晶子サイズ・格子歪を解析したいとき
• Thornton-Anders 構造ゾーンモデルにデータをマッピングしたいとき
• 多技法（XRD + AFM + 電気 + 光学）データを統合した解析
• PSP フレームワーク（Process → Structure → Property）

Quick Start

1. 材料定義テンプレート